و هو جهاز يمكن استخدامه لقياس حلقة التخلف المغناطيسي للمواد المغناطيسية. يعتمد جهاز حلقة التخلف المغناطيسي المشترك بشكل أساسي مبدأ الحث الكهرومغناطيسي ، أي مراقبة حلقة التخلف المغناطيسي من خلال منظار الذبذبات. ومع ذلك ، فإن الصور المعروضة بواسطة منظار الذبذبات تتوافق مع جهد مقاوم أخذ العينات للملف الممغنط والجهد عبر مكثف الملف الثانوي ، الذي ينتمي إلى طريقة قياس غير مباشرة.
مبدأ طريقة القاعة ، قياس أبسط وأكثر بديهية.
إتقان حلقة التباطؤ المغناطيسي وفهم التطبيق العملي لتأثير القاعة.
تصميم وحدات: يمكن استخدام مصدر الطاقة ، مقياس تسلاميتر ولفة كهرومغناطيسية بشكل مستقل.
تسمح الواجهات الرقمية الغنية بالملاحظة البديهية والمريحة لظواهر حلقة التباطؤ المغناطيسي.
قياس التوزيع الكهرومغناطيسي في العينات المغناطيسية
قياس حلقة التباطؤ المغناطيسي
إزالة المغناطيسية بالتيار المستمر للمواد المغناطيسية
قياس حلقة التباطؤ المغناطيسي للمواد المختلفة
لا. | اسم جزء | المعلَمة |
1 | مزود طاقة بجهد ثابت قابل للتعديل (0-12 فولت) | الجهد: 0-12 فولت ، القرار: 10mV الحالي: 0-1.5A ، القرار: 1mA |
2 | مقياس تسلاميتر | 0-2000mT ، دقة 0.1 طن |
3 | ملف صلب كهرومغناطيسي | مادة مغناطيسية صلبة ، لفائف المجال المغناطيسي على شكل U ، يتحول |
4 | ملف كهرومغناطيسي لين | مادة مغناطيسية ناعمة ، لفائف المجال المغناطيسي على شكل U ، يتحول |
5 | المسار | الطول من من من |
لا. | اسم جزء | نموذج | الكمية. |
1 | مزود طاقة بجهد ثابت قابل للتعديل (0-12 فولت) | BEM-5060 | 1 |
2 | ملف كهرومغناطيسي صلب يو النواة | BEM-5067 | 1 |
3 | المسار ، الطول ، من | BEM-5201-04 | 1 |
4 | حامل بصري ، بطول 50 + | BEM-5204-50 | 1 |
5 | حامل آخر قابل للتعديل | BEM-5205-25 | 1 |
6 | آخر ، الطول 90 + | BEM-5209-09 | 1 |
7 | مقياس تسلاميتر | BEM-5032A | 1 |
8 | ملف كهرومغناطيسي ناعم على أساس U (اختياري) | BEM-5022 | 1 |
9 | كابل 8 دبوس | BC-105077 | 2 |
10 | كابل الطاقة | BC-105075 | 1 |
خصائص الخلية الشمسية ، والخلية الشمسية
من من من من من ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن ومن
الشكل: خصائص التيار الكهربائي والجهد الكهربائي للخلية الشمسية.
EN
jp 
ko 
fr 
de 
es 
tr 
ru 
pt 
ar 
vi 
